< Terug naar vorige paginaInfrastructuur Scanning electron microscopeField emission scanning electron microscope (SEM). JEOL JSM7100F Type: Equipment Locatietype: Single sited Toegankelijkheid: Niet toegankelijk Url: https://www.plantentuinmeise.be/nl/pQYe7FG/wetenschap/onderzoeksfaciliteiten-en-expertisePartners1 - 1 of 1Plantentuin Meise / Agentschap Plantentuin Meise (Kennisinstituut)Consortium Partner