< Terug naar vorige pagina
Onderzoeker
Vahap Baris Esen
- Disciplines:Nanotechnologie, Sensoren, biosensoren en slimme sensoren, Andere elektrotechniek en elektronica, Ontwerptheorieën en -methoden
Affiliaties
- Elektronische Circuits en Systemen (ECS) (Afdeling)
Lid
Vanaf1 aug 2020 → 15 aug 2020 - Afdeling ESAT - MICAS, Micro-elektronica en Sensoren (Afdeling)
Lid
Vanaf1 mei 2014 → 31 jul 2020 - Departement Elektrotechniek (ESAT) (Departement)
Lid
Vanaf1 okt 2013 → 30 apr 2014
Projecten
1 - 1 of 1
- Ontwerp voor sub-PPM testbaarheid van hoge-spanning analoge en gemengd-signaal geïntegreerde schakelingenVanaf1 mei 2014 → 5 mei 2020Financiering: BOF - Nieuwe Onderzoeksinitiatieven
Publicaties
1 - 10 van 13
- Design for Sub-PPM Testability of High-Voltage Mixed-Signal and Analog Integrated Circuits(2020)
Auteurs: Vahap Baris Esen, Georges Gielen
- Methodology Towards Sub-ppm Testing of Analog and Mixed-Signal ICs for Cyber-Physical Systems(2018)
Auteurs: Georges Gielen, Vahap Baris Esen, Anthony Coyette, Nektar Xama
Aantal pagina's: 4 - Non-intrusive detection of defects in mixed-signal integrated circuits using light activation(2018)
Auteurs: Vahap Baris Esen, Anthony Coyette, Nektar Xama, Georges Gielen
Pagina's: 1 - 7 - Automatic Testing of Analog ICs for Latent Defects using Topology Modification(2017)
Auteurs: Nektar Xama, Anthony Coyette, Vahap Baris Esen, Georges Gielen
Pagina's: 1 - 6 - A very low cost and highly parallel DfT method for analog and mixed-signal circuits(2017)
Auteurs: Vahap Baris Esen, Anthony Coyette, Nektar Xama, Georges Gielen
Pagina's: 1 - 2 - Effective DC fault models and testing approach for open defects in analog circuits(2017)
Auteurs: Vahap Baris Esen, Anthony Coyette, Georges Gielen
Pagina's: 1 - 9 - Automatic test signal generation for mixed-signal integrated circuits using circuit partitioning and interval analysis(2016)
Auteurs: Anthony Coyette, Vahap Baris Esen, Georges Gielen
Aantal pagina's: 10 - Automatic generation of test infrastructures for analog integrated circuits by controllability and observability co-optimization(2016)
Auteurs: Anthony Coyette, Vahap Baris Esen, Georges Gielen
Pagina's: 393 - 400 - Design and test of analog circuits towards sub-ppm level(2015)
Auteurs: Georges Gielen, Anthony Coyette, Vahap Baris Esen
Pagina's: 1 - 2 - Automated Testing of Mixed-Signal Integrated Circuits by Topology Modification(2015)
Auteurs: Anthony Coyette, Vahap Baris Esen, Wim Dobbelaere, Ronny Vanhooren, Georges Gielen
Pagina's: 1 - 6