< Terug naar vorige pagina

Project

Gecombineerde SEM-STEM voor een hoge resolutie en high-throughput beeldvorming en analyse van geavanceerde materialen. (CombiS(T)EM)

Het wordt vaak gezegd, "een beeld spreekt meer dan 1000 woorden". In materiaal wetenschappen is de mogelijkheid om monsters te "zien" een revelatie, een ontdekken van nieuwe structuren of fenomenen. Transmissie elektronen microscopie (TEM) – met haar mogelijkheden voor hoge resolutie beelden op nanoschaal, elektronen buiging en chemische analyses – is een van de meeste belangrijke karakteriseringstechnieken geweest in de materiaal wetenschappen. De CombiS(T)EM is de ultieme oplossing voor efficiënte karakterisering op de nanoschaal ten einde een sterke positie te behouden betreffende materiaal synthese, ontwikkeling en verwerkingen om de toekomstige uitdagingen vanuit de industriëlen noden en specificaties te kunnen vervullen. De voorgestelde Combi(S)TEM combineert hoge resolutie, snelle beeldvorming en element analyse met in-situ experimenten. De voornaamste tekortkoming van TEM – het maken van een geprojecteerde "schaduw" van het voorwerp – wordt hiermee ook omzeild door het gebruik van een bijkomende SE detector waarmee de TEM de mogelijkheden van een SEM krijgt om oppervlaktes af te beelden.

Datum:11 dec 2014 →  31 dec 2018
Trefwoorden:high-throughput imaging, high-resolution imaging, SEM-STEM, CombiS(T)EM
Disciplines:Multimediaverwerking, Biologische systeemtechnologie, Signaalverwerking