< Terug naar vorige pagina

Project

X-stralen computer tomografie beelden voor een kwantitatieve analyse van materialen en processen.

Wetenschappers en ingenieurs halen uit X-stralen CT beelden kwantitatieve data over de interne (beschadigde) structuur van een materiaal of zijn opbouw teneinde het materiaal te karakteriseren en mechanische, statistische of multischaal modellen van het materiaalgedrag of de schadeprocessen die optreden door externe factoren te voeden.
Datum:1 okt 2016 →  30 sep 2018
Trefwoorden:tomography
Disciplines:Keramische en glasmaterialen, Materialenwetenschappen en -techniek, Halfgeleidermaterialen, Andere materiaaltechnologie