< Terug naar vorige pagina

Publicatie

CAD-based defect inspection with optimal view angle selection based on polychromatic X-ray projection images

Boekbijdrage - Boekabstract Conferentiebijdrage

Boek: 9th Conference on Industrial Computed Tomography, Padova, Italy (iCT 2019)
Aantal pagina's: 5
Jaar van publicatie:2019
Trefwoorden:P3 Proceeding
Toegankelijkheid:Open