< Terug naar vorige pagina
Publicatie
Investigation of the Impact of Externally Applied Out-of-Plane Stress on Ferroelectric FET
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: IEEE Electron Device Letters
ISSN: 0741-3106
Issue: 2
Volume: 42
Pagina's: 264 - 267
Jaar van publicatie:2021
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:1
Authors from:Government, Higher Education
Toegankelijkheid:Closed