< Terug naar vorige pagina
Publicatie
3D-printed optical probes for wafer-level testing of photonic integrated circuits
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: OPTICS EXPRESS
ISSN: 1094-4087
Issue: 25
Volume: 28
Pagina's: 37996 - 38007
Jaar van publicatie:2020
Toegankelijkheid:Open