< Terug naar vorige pagina

Project

Optimalisatie van in-proces metingen voor kwaliteitsgarantie

Dit onderzoek heeft de ontwikkeling van algoritmes en hardware voor dimensionale metrologie en de integratie ervan in een digitale productieomgeving als doel. Specifiek betreft het de optimalisatie van optische detectiemethodes door gebruik te maken van gestructureerd licht om zo in-situ informatie te verzamelen over de dimensies van grote onderdelen in een werkvloer omgeving
Datum:12 okt 2021 →  9 mrt 2023
Trefwoorden:Dimensional metrology, Optical sensing, In-situ metrology
Disciplines:Dimensionale metrologie
Project type:PhD project