< Terug naar vorige pagina

Project

FaCT: Snelle geAutomatiseerde X-stralen CT karakterisatie

De gevraagde micro-CT scanner zal een substantiële aanvulling betekenen op de bestaande micro-CT scanners van het UGent Expertisecentrum en Core Facility voor X-stralen Tomografie (UGCT), reeds jaren beschikbaar voor interne en externe academische gebruikers alsook voor de industrie. Deze scanner is essentieel om voor het eerst op geautomatiseerde en betrouwbare wijze statistisch relevante hoeveelheden stalen te scannen en te analyseren via gestandaardiseerde protocollen. Deze zal tevens een belangrijke meerwaarde bieden om de doelstellingen binnen het gekoppelde IOF-platform rond materialen karakterisatie (MATCH) te behalen. Dit project zal micro-CT data-gedreven onderzoek en ontwikkeling mogelijk maken. Dit is een substantiële meerwaarde voor zowel de huidige als toekomstige industriële gebruikers van UGCT, alsook voor de verschillende academische partners. Met deze stap maken we UGCT klaar voor een inzet van micro-CT in onderzoek en ontwikkeling op grote schaal.

Datum:1 mei 2021 →  31 okt 2022
Trefwoorden:X-stralentomografie, gestandardiseerde workflow, hoge doorvoer, automatische karakterisatie, 3D data
Disciplines:Toegepaste aspecten van de nucleaire fysica, Andere aardwetenschappen niet elders geclassificeerd, Destructieve en niet-destructieve materiaaltesten