< Terug naar vorige pagina
Publicatie
A 420-GHz Sub-5-μm Range Resolution TX-RX Phase Imaging System in 40-nm CMOS Technology
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: IEEE Journal of Solid-State Circuits
ISSN: 0018-9200
Issue: 12
Volume: 56
Pagina's: 3827 - 3839
Jaar van publicatie:2021
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:3
CSS-citation score:1
Auteurs:International
Authors from:Higher Education
Toegankelijkheid:Closed