L-SCAN: het samenbrengen van oppervlakken, dunne lagen, en nanostructuren.

In deze opwindende en stimulerende periode kunnen materialen kunstmatig met een controle op atomair niveau geproduceerd worden. Dit laat toe om het oppervlak van materialen gericht aan te passen, en dunne lagen en nanostructuren te synthetiseren op een unieke manier waardoor het mogelijk is om materiaaleigenschappen te sturen. Deze aanpak vindt toepassing in bijvoorbeeld katalyse, batterijontwikkeling, (elektro)optica, en magnetisme. Geavanceerde karakteriseringstechnieken zijn onontbeerlijk voor een efficiënte optimalisatie voor deze synthesemethode. Dit project beoogt de verwerving van een laagspannings-elektronenmicroscoop (LV-SEM), die een performante werking mogelijk maakt bij versnellingsspanningen van enkele kiloelektronvolt of minder, in combinatie met een ultramoderne röntgenspectrometer die gevoelig is voor lichte elementen zoals Li (SXES). Deze topkwaliteit karakterisering van luchtgevoelige materialen zal mogelijk worden gemaakt door een transfersysteem om samples uit de gecontroleerde productieomgeving onder inerte atmosfeer naar de analysekamer van de LV-SEM/SXES te brengen. Het consortium, 16 promotoren uit 13 verschillende onderzoeksgroepen, verenigt teams die anorganische of hybride dunne films en nanostructuren, en hun oppervlakken onderzoeken. Dit waarborgt een efficiënt gebruik van deze apparatuur en zal bestaande samenwerkingsverbanden versterken en uitbreiden.