< Terug naar vorige pagina
Publicatie
ON-state reliability of GaN-on-Si Schottky Barrier Diodes : Si3N4 vs. Al2O3/SiO2 GET dielectric
Boekbijdrage - Boekhoofdstuk Conferentiebijdrage
Boek: 2021 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM (IRPS)
Aantal pagina's: 1
ISBN:9781728168937
Toegankelijkheid:Closed