In situ XRF en XAS studie van atomaire laag depositie op vlakke en poreuze substraten U+2013 depositie van bimetallische materialen.

Het onderzoek betreft de ontwikkeling van synchrotron-gebaseerde meettechnieken voor de in situ karakterisering van een atomair depositieproces van inorganische materialen in/op vaste stoffen. Als specifieke toepassing worden de depositie en vorming van bimetallische materialen bestudeerd.