< Terug naar vorige pagina

Onderzoeker

Arnold Jan den Dekker

  • Onderzoeksdoeleinden:Het onderzoek van Arjan den Dekker richt zich voornamelijk op nieuwe ontwikkelingen in het domein van het modelgebaseerd meten, met als doel het verkrijgen van kwantitatieve metingen van fysische parameters met maximale nauwkeurigheid en precisie. Belangrijkste toepassingsvelden: kwantitatieve magnetische resonantie beeldvorming en kwantitatieve elektronenmicroscopie.
  • Trefwoorden:STATISTISCHE DATA ANALYSE, PARAMETERSCHATTING, Natuurkunde
  • Disciplines:Mathematische en kwantitatieve methoden niet elders geclassificeerd
  • Onderzoekstechnieken:Parameterschatten, statistische signaalverwerking, meest aannemelijk schatten, Bayesiaans schatten, statistische proefopzet, statistische inferentie, statistische detectie methoden, superresolutie reconstructie
  • Gebruikers van onderzoeksexpertise:Wetenschappers en ingenieurs die zo nauwkeurig en precies mogelijk kwantitatieve parameters wensen te bepalen uit experimentele metingen kunnen baat hebben bij een model-gebaseerde aanpak gebaseerd op statistische parameterschatingstheorie.