< Terug naar vorige pagina
Onderzoeker
Simon Van Beek
- Disciplines:Nanotechnologie, Sensoren, biosensoren en slimme sensoren, Andere elektrotechniek en elektronica, Ontwerptheorieën en -methoden
Affiliaties
- Elektronische Circuits en Systemen (ECS) (Afdeling)
Lid
Vanaf1 aug 2020 → 30 sep 2018 - Afdeling ESAT - MICAS, Micro-elektronica en Sensoren (Afdeling)
Lid
Vanaf13 mrt 2018 → 30 sep 2018 - Departement Elektrotechniek (ESAT) (Departement)
Lid
Vanaf1 okt 2013 → 31 dec 2017
Projecten
1 - 1 of 1
- Onderzoek naar betrouwbaarheidsaspecten van STT-MRAM magnetische geheugencellen.Vanaf3 sep 2013 → 27 aug 2018Financiering: IWT persoonsgebonden financ. - strategische onderzoeksbeurzen, BOF - Nieuwe Onderzoeksinitiatieven
Publicaties
1 - 10 van 10
- Impact of operating temperature on the electrical and magnetic properties of the bottom-pinned perpendicular magnetic tunnel junctions(2018)
Auteurs: Yueh Chang Wu, Simon Van Beek, Johanna Jochum, Margriet Van Bael, Jan Van Houdt, Guido Groeseneken
- Reliability Characterization of STT-MRAM Magnetic Memory. The Impact of Self-Heating(2018)
Auteurs: Simon Van Beek, Guido Groeseneken
- Spin-torque-driven MTJs with extended free layer for logic applications(2018)
Auteurs: Eline Raymenants, Simon Van Beek, Iuliana Radu, Marc Heyns
- Extended RVS characterisation of STT-MRAM devices: Enabling detection of AP/P switching and breakdown(2018)
Auteurs: Simon Van Beek
Pagina's: PMY.51 - PMY.56 - Thermal stability analysis and modelling of advanced perpendicular magnetic tunnel junctions(2018)
Auteurs: Simon Van Beek, Koen Martens, Yueh Chang Wu, Guido Groeseneken
- Impact of self-heating on reliability predictions in STT-MRAM(2018)
Auteurs: Simon Van Beek
Aantal pagina's: 4 - Impact of processing and stack optimization on the reliability of perpendicular STT-MRAM(2017)
Auteurs: Simon Van Beek, Koen Martens, Guido Groeseneken
Pagina's: 5 - Experimental Observation of Back-Hopping With Reference Layer Flipping by High-Voltage Pulse in Perpendicular Magnetic Tunnel Junctions(2016)
Auteurs: Simon Van Beek
- Voltage acceleration and pulse dependence of barrier breakdown in MgO based magnetic tunnel junctions(2016)
Auteurs: Simon Van Beek, Koen Martens, Guido Groeseneken
Aantal pagina's: 4 - Four point probe ramped voltage stress as an efficient method to understand breakdown of STT-MRAM MgO tunnel junctions(2015)
Auteurs: Simon Van Beek, Koen Martens, Guido Groeseneken
Aantal pagina's: 6