< Terug naar vorige pagina
Onderzoeker
Wilfried Vandervorst
- Disciplines:Toegepaste wiskunde, Fysica van gecondenseerde materie en nanofysica, Atoom- en moleculaire fysica, Geofysica, Fysische geografie en omgevingsgeowetenschappen, Andere aardwetenschappen, Aquatische wetenschappen, uitdagingen en vervuiling, Geomatische ingenieurswetenschappen
Affiliaties
- Kwantum-vastestoffysica (Afdeling)
Lid
Vanaf1 aug 2019 → Heden - Kern- en Stralingsfysica (IKS) (Afdeling)
Lid
Vanaf1 okt 2007 → 3 okt 2019
Projecten
1 - 10 of 34
- Hoge laterale- en diepte-resolutie ionenstraalanalyse van lateraal begrensde nanostructurenVanaf2 sep 2019 → HedenFinanciering: FWO Strategische Onderzoeksbeurs
- Zelf-focusserende SIMS met in-situ SPM: een paradigmaverschuiving in 3D-metrologieVanaf12 okt 2018 → 13 mei 2022Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Atom-by-atom analyse van geavanceerde halfgeleiderelementen: het ontrafelen van de fysica van atoomprobe tomografieVanaf20 aug 2018 → 22 mei 2019Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Nano-focused Raman spectroscopie voor stess en compositie metingenVanaf31 jul 2018 → HedenFinanciering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Door laserondersteunde atoomprobe tomografie van oxidematerialen: veldverdampingsmechanismestudie en prestatieverbeteringVanaf15 mei 2018 → 18 dec 2020Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Synthese en karakterisering op atomaire schaal van complexe oxides met elektronische/ionische geleidbaarheidVanaf1 jan 2018 → 31 dec 2021Financiering: FWO Onderzoeksproject
- Metrologie en fysische mechanismen van 2D overgangsmetaal dichalcogenides en hun toepassing in elektronische schakelingen.Vanaf6 nov 2017 → 31 jan 2020Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Een pad naar verbetering in de atoom probe tomografie van halfgeleiders: de dynamische evolutie van de halfgeleider emitter ontrafelenVanaf1 sep 2017 → 31 dec 2021Financiering: FWO Strategische Onderzoeksbeurs
- Ontwikkeling en karakterisatie van nano- en micro-referentiestructuren voor 3D chemische analyseVanaf8 feb 2017 → 8 jul 2019Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Geavanceerde methodologie voor in-line elektrische karakterisatie van gedoteerde halfgeleiders in geconfineerde volumes.Vanaf1 nov 2016 → 31 dec 2020Financiering: FWO Strategische Onderzoeksbeurs
Publicaties
1 - 10 van 459
- Towards improved atom probe tomography analysis of semiconductors : unraveling the dynamic evolution of the semiconductor emitter(2021)
Auteurs: Jonathan Op de Beeck, Wilfried Vandervorst, Claudia Fleischmann
- Light interactions with periodic nanoline arrays for nanoelectronic applications(2021)
Auteurs: Andrzej Gawlik, Wilfried Vandervorst
- Unravelling stacking order in epitaxial bilayer MX(2)using 4D-STEM with unsupervised learning(2020)
Auteurs: Ankit Nalin Mehta, Wilfried Vandervorst
Aantal pagina's: 8 - The impact of focused ion beam induced damage on scanning spreading resistance microscopy measurements(2020)
Auteurs: Komal Pandey, Wilfried Vandervorst
Aantal pagina's: 15 - A Correlative ToF-SIMS/SPM Methodology for Probing 3D Devices(2020)
Auteurs: Claudia Fleischmann, Wilfried Vandervorst
Pagina's: 11413 - 11419Aantal pagina's: 7 - Critical dimension metrology using Raman spectroscopy(2020)
Auteurs: Andrzej Gawlik, Janusz Bogdanowicz, Thomas Nuytten, Anne-Laure Charley, Lieve Teugels, Jan Misiewicz, Wilfried Vandervorst
Aantal pagina's: 4 - Understanding the effect of confinement in scanning spreading resistance microscopy measurements(2020)
Auteurs: Komal Pandey, Wilfried Vandervorst
Aantal pagina's: 11 - A demonstration of donor passivation through direct formation of V-As-i complexes in As-doped Ge1-xSnx(2020)
Auteurs: Afrina Khanam, Anurag Vohra, Jonatan Slotte, Ilja Makkonen, Roger Loo, Geoffrey Pourtois, Wilfried Vandervorst
Aantal pagina's: 6 - Source/Drain Materials for Ge nMOS Devices: Phosphorus Activation in Epitaxial Si, Ge, Ge1-xSnx and SiyGe1-x-ySnx(2020)
Auteurs: Anurag Vohra, Wilfried Vandervorst
Aantal pagina's: 12 - Surface analysis in the semiconductor industry: Present use and future possibilities(2020)
Auteurs: Wilfried Vandervorst
Pagina's: 786 - 791Aantal pagina's: 6