< Terug naar vorige pagina
Onderzoeker
Wilfried Vandervorst
- Disciplines:Toegepaste wiskunde, Fysica van gecondenseerde materie en nanofysica, Atoom- en moleculaire fysica, Geofysica, Fysische geografie en omgevingsgeowetenschappen, Andere aardwetenschappen, Aquatische wetenschappen, uitdagingen en vervuiling, Geomatische ingenieurswetenschappen
Affiliaties
- Kwantum-vastestoffysica (Afdeling)
Lid
Vanaf1 aug 2019 → Heden - Kern- en Stralingsfysica (IKS) (Afdeling)
Lid
Vanaf1 okt 2007 → 31 jul 2019 - Departement Elektrotechniek (ESAT) (Departement)
Lid
Vanaf1 okt 1999 → 30 sep 2007
Projecten
1 - 10 of 34
- Hoge laterale- en diepte-resolutie ionenstraalanalyse van lateraal begrensde nanostructurenVanaf2 sep 2019 → HedenFinanciering: FWO Strategische Onderzoeksbeurs
- Zelf-focusserende SIMS met in-situ SPM: een paradigmaverschuiving in 3D-metrologieVanaf12 okt 2018 → 13 mei 2022Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Atom-by-atom analyse van geavanceerde halfgeleiderelementen: het ontrafelen van de fysica van atoomprobe tomografieVanaf20 aug 2018 → 22 mei 2019Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Nano-focused Raman spectroscopie voor stess en compositie metingenVanaf31 jul 2018 → 31 jul 2022Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Door laserondersteunde atoomprobe tomografie van oxidematerialen: veldverdampingsmechanismestudie en prestatieverbeteringVanaf15 mei 2018 → 18 dec 2020Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Synthese en karakterisering op atomaire schaal van complexe oxides met elektronische/ionische geleidbaarheidVanaf1 jan 2018 → 31 dec 2021Financiering: FWO Onderzoeksproject
- Metrologie en fysische mechanismen van 2D overgangsmetaal dichalcogenides en hun toepassing in elektronische schakelingen.Vanaf6 nov 2017 → 31 jan 2020Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Een pad naar verbetering in de atoom probe tomografie van halfgeleiders: de dynamische evolutie van de halfgeleider emitter ontrafelenVanaf1 sep 2017 → 31 dec 2021Financiering: FWO Strategische Onderzoeksbeurs
- Ontwikkeling en karakterisatie van nano- en micro-referentiestructuren voor 3D chemische analyseVanaf8 feb 2017 → 8 jul 2019Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Geavanceerde methodologie voor in-line elektrische karakterisatie van gedoteerde halfgeleiders in geconfineerde volumes.Vanaf1 nov 2016 → 31 dec 2020Financiering: FWO Strategische Onderzoeksbeurs
Publicaties
1 - 10 van 471
- Field dependent study on the impact of co-evaporated multihits and ion pile-up for the apparent stoichiometric quantification of GaN and AlN(2022)
Auteurs: Wilfried Vandervorst, Claudia Fleischmann
- Quantification of area-selective deposition on nanometer-scale patterns using Rutherford backscattering spectrometry(2022)
Auteurs: Niels Claessens, Annelies Delabie, André Vantomme, Wilfried Vandervorst, Johannes Meersschaut
- Post-field ionization of Si clusters in atom probe tomography: A joint theoretical and experimental study(2022)
Auteurs: Claudia Fleischmann, Wilfried Vandervorst
- OrbitrapTM-SIMS analysis of advanced semiconductor inorganic structures(2022)
Auteurs: Wilfried Vandervorst
- Off-axis Raman spectroscopy for nanoscale stress metrology(2022)
Auteurs: Claudia Fleischmann, Ingrid De Wolf, Wilfried Vandervorst
- A Bottom-Up Volume Reconstruction Method for Atom Probe Tomography(2022)
Auteurs: Claudia Fleischmann, Wilfried Vandervorst
Pagina's: 1102 - 1115 - Ensemble RBS: Probing the compositional profile of 3D microscale structures(2022)
Auteurs: Niels Claessens, Wilfried Vandervorst, André Vantomme, Johannes Meersschaut
- Towards improved atom probe tomography analysis of semiconductors : unraveling the dynamic evolution of the semiconductor emitter(2021)
Auteurs: Jonathan Op de Beeck, Wilfried Vandervorst, Claudia Fleischmann
- The Prospect of Spatially Accurate Reconstructed Atom Probe Data Using Experimental Emitter Shapes(2021)
Auteurs: Jeroen Scheerder, Wilfried Vandervorst, Claudia Fleischmann
Pagina's: 1 - 9 - Point defect formation near the epitaxial Ge(001) growth surface and the impact on phosphorus doping activation(2021)
Auteurs: Wilfried Vandervorst
Patenten
1 - 10 van 10
- Method and apparatus for transmission electron microscopy (Inventor)
- A method and apparatus for aligning a probe for scanning probe microscopy to the tip of a pointed sample (Inventor)
- A method and apparatus for transmission for transmission electron (Inventor)
- A method and apparatus for aligning a probe for scanning probe microscopy to the tip of a pointed sample (Inventor)
- Characterization of regions with different crystallinity in materials (Inventor)
- A device and method for two dimensional active carrier profiling of semiconductor components (Inventor)
- A device for measuring surface characteristics of a material (Inventor)
- Method for determining the shape of a sample tip for atom probe tomography (Inventor)
- Method for differential heating of elongate nano-scaled structures (Inventor)
- Characterization of regions with different crystallinity in materials (Inventor)