< Terug naar vorige pagina
Onderzoeker
Zhicheng Wu
- Disciplines:Nanotechnologie, Sensoren, biosensoren en slimme sensoren, Andere elektrotechniek en elektronica, Ontwerptheorieën en -methoden
Affiliaties
- Elektronische Circuits en Systemen (ECS) (Afdeling)
Lid
Vanaf1 aug 2020 → 31 mei 2022 - Afdeling ESAT - MICAS, Micro-elektronica en Sensoren (Afdeling)
Lid
Vanaf25 sep 2017 → 31 jul 2020
Projecten
1 - 1 of 1
- Ontwikkeling van betrouwbare poortstapels voor gestapelde MOS-apparaten in een 3D-sequentiële integratieVanaf26 sep 2017 → 13 apr 2022Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
Publicaties
1 - 10 van 11
- LaSiOx- and Al2O3-Inserted Low-Temperature Gate-Stacks for Improved BTI Reliability in 3-D Sequential Integration(2022)
Auteurs: Zhicheng Wu, Guido Groeseneken
Pagina's: 915 - 921 - Investigation of the Impact of Hot-Carrier-Induced Interface State Generation on Carrier Mobility in nMOSFET(2021)
Auteurs: Zhicheng Wu, Guido Groeseneken
Pagina's: 3246 - 3253 - Investigating the Current Collapse Mechanisms of p-GaN Gate HEMTs by Different Passivation Dielectrics(2021)
Auteurs: Zhicheng Wu, Guido Groeseneken
Pagina's: 4927 - 4930 - A BSIM-Based Predictive Hot-Carrier Aging Compact Model(2021)
Auteurs: Yang Xiang, Michiel Vandemaele, Zhicheng Wu
Pagina's: 1 - 9 - Effects of Back-Gate Bias on the Mobility and Reliability of Junction-Less FDSOI Transistors for 3-D Sequential Integration(2021)
Auteurs: Zhicheng Wu, Guido Groeseneken
Pagina's: 464 - 470 - Observation of Dynamic VTH of p-GaN Gate HEMTs by Fast Sweeping Characterization(2020)
Auteurs: Xiangdong Li, Zhicheng Wu, Guido Groeseneken
Pagina's: 577 - 580 - Improved PBTI Reliability in Junction-Less FET Fabricated at Low Thermal Budget for 3-D Sequential Integration(2019)
Auteurs: Zhicheng Wu, Guido Groeseneken
Pagina's: 262 - 267 - On the Impact of the Gate Work-Function Metal on the Charge Trapping Component of NBTI and PBTI(2019)
Auteurs: Zhicheng Wu, Guido Groeseneken
Pagina's: 268 - 274 - Accelerated Capture and Emission (ACE) Measurement Pattern for Efficient BTI Characterization and Modeling(2019)
Auteurs: Zhicheng Wu, Guido Groeseneken
Aantal pagina's: 7 - BTI Reliability Improvement Strategies in Low Thermal Budget Gate Stacks for 3D Sequential Integration(2018)
Auteurs: Zhicheng Wu, Guido Groeseneken
Aantal pagina's: 4