Analyse van textuur en restspanningen door middel van röntgendiffractie

Binnen dit project wordt röntgen diffractie (XRD) apparatuur aangevraagd die zal aangewend worden voor het opmeten en kwantificeren van restspanningen en kristallografische textuur in polykristallijne materialen. Binnen het materiaalkundig onderzoek is deze apparatuur onmisbaar aangezien de aanwezigheid van restspanningen en textuur zowel het statisch als lange termijn gedrag van materialen zal beïnvloeden. XRD is dé methode om op een niet-destructieve manier deze materiaalparameters te bepalen. Nieuwe onderzoeksgebieden waarbij spannings- en textuurbepaling van belang zijn o.a. het simultaan voorspellen van spanning en textuur bij koud vervormen, de textuur- en restspanningsontwikkeling tijdens het lokaal stollen in 3D geprinte metaalstructuren, het ontwerpen van functionele gradiëntmaterialen, enz. De voornaamste extra troef van de aangevraagde apparatuur is een snellere detector met een betere resolutie dan de vandaag gebruikte scintillatie detector.

Trefwoorden:X-ray diffraction

Disciplines:Keramische en glasmaterialen, Materialenwetenschappen en -techniek, Halfgeleidermaterialen, Andere materiaaltechnologie