< Terug naar vorige pagina

Project

Dieptegevoelige studie van exchange bias in Fe-FeO films.

In dit project zullen we het exchange bias effect bestuderen in Fe-FeO dunne-filmstructuren die gemaakt worden door zuurstofimplantatie in een dunne ijzerfilm. De ijzerfilms worden gemaakt door depositie in een moleculaire-bundelepitaxiesysteem. Onze interesse gaat uit naar het resolveren van de diepte-afhankelijkheid van het exchange bias effect. Een diepte-effect wordt verwacht aangezien het implantatieproces aanleiding geeft tot een gaussische diepteverdeling van de geimplanteerde atomen. Als belangrijkste experimentele techniek zullen we gebruik maken van nucleaire resonante verstrooiing van synchrotronstraling. In een tweede onderdeel zullen we de implantaties combineren met lithografie zodat een lateraal gemoduleerde structuur ontstaat waarin we de bijdrage van domeinwanden aan de weerstand zullen bestuderen.
Datum:1 mrt 2010 →  28 feb 2011
Trefwoorden:Synchrotron, Physics, Nanostructures, Magnetism, Thin films, Exchange bias
Disciplines:Fysica van gecondenseerde materie en nanofysica