< Terug naar vorige pagina

Project

Studie van metaalhalogenide perovskieten met in situ elektronenmicroscopie bij lage elektronendosis: onderzoeken en begrijpen van de rol van defecten en degradatiemechanismen onder de invloed van spannning, zuurstof en vocht.

Metaalhalogenide perovskieten (MHP) zijn veelbelovende halfgeleiders voor de volgende generatie opto-elektronische toepassingen vanwege hun uitstekende eigenschappen en goedkope verwerkbaarheid. Helaas worden echte toepassingen momenteel gehinderd door het gebrek aan stabiliteit wanneer MHP's worden blootgesteld aan relevante omstandigheden. Om deze beperking te overwinnen, is een nauwkeurige kennis van de structuur-eigenschaprelatie in MHP's vereist. Daarom beoogt dit project de ontwikkeling van nieuwe en geavanceerde transmissie-elektronenmicroscopie (TEM) technieken voor in situ experimenten, waarbij MHP's zullen worden blootgesteld aan realistische omgevingsfactoren. Hierbij is de ontwikkeling van lage dosis TEM technieken cruciaal omwille van de hoge elektronenbundelgevoeligheid van MHP's. Deze technieken zullen worden gecombineerd met in situ experimenten onder hitte, gasvormige omgeving en hoge spanning. Op basis van de uitkomst zal ik beter inzicht krijgen betreffende veelbelovende stabilisatiemethoden zoals erankering aan het grensvlak. Ik zal hierbij de invloed van grensvlakdefecten en korrelgrenstypes in gestructureerde MHP dunne films karakteriseren. Bovendien zullen de resultaten, verkregen met TEM, nieuwe inzichten opleveren over degradatiemechanismen onder invloed van hoge spanning, zuurstof of vocht. Op deze manier zal mijn project de nodige input leveren om nieuwe strategieën te ontwikkelen voor het verbeteren van de stabiliteit van MHP's op de lange termijn.
Datum:1 okt 2021 →  Heden
Trefwoorden:NANOSCHAAL ANALYSE, ELEKTRONENMICROSCOPIE
Disciplines:Oppervlakten, interfaces, 2D-materialen, Fase transformaties, Nanomaterialen, Nanoschaalkarakterisering, Zonne-energie
Project type:Samenwerkingsproject