Ontwerp voor sub-PPM testbaarheid van hoge-spanning analoge en gemengd-signaal geïntegreerde schakelingen KU Leuven
Halfgeleider proces- en verpakkingstechnologieën resulteren onvermijdelijk in de fabricatie van een aantal geïntegreerde schakelingen (IC’s) die, het na hun productie of doorheen hun levensduur, niet werken zoals ontworpen. Het testen van ICs fungeert als filter tussen de markt die volledig functionele elektronische chips eist en de onvolmaakte fabricatie van IC’s. Terwijl het testen zelf niet perfect is en daardoor toch foute chips doorlaat ...