Low Voltage Scanning Electron Microscope (LV-SEM) Universiteit Gent
L-SCAN combineert een laagspannings-SEM (LV-SEM), die kan werken bij versnellingsspanningen van enkele kilo-elektronvolt of minder, met een geavanceerde röntgenspectrometer.
die lichtelementgevoeligheid biedt tot aan de detectie en kartering van Li K-röntgenstraling (ca. 55 eV). Karakterisering van luchtgevoelige materialen van topkwaliteit wordt mogelijk gemaakt door een specimenoverdrachtsvat waarmee monsters vanuit de gecontroleerde productieomgeving onder inerte atmosfeer naar de analysekamer van de LV-SEM worden gebracht.