< Terug naar vorige pagina
Publicatie
Causes and consequences of the stochastic aspect of filamentary RRAM
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: MICROELECTRONIC ENGINEERING
ISSN: 0167-9317
Volume: 147
Pagina's: 171 - 175
Jaar van publicatie:2015
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:3
Auteurs:International
Authors from:Government, Higher Education