< Terug naar vorige pagina
Publicatie
Understanding the effect of confinement in scanning spreading resistance microscopy measurements
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
ISSN: 0021-8979
Issue: 3
Volume: 128
Jaar van publicatie:2020
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:1
Auteurs:International
Authors from:Government, Higher Education