< Terug naar vorige pagina
Publicatie
Compact Modeling of Multi-Domain Ferroelectric FETs: Charge Trapping, Channel Percolation and Nucleation-Growth Domain Dynamics
Tijdschriftbijdrage - e-publicatie
Tijdschrift: IEEE Transactions on Electron Devices
ISSN: 0018-9383
Issue: 4
Volume: 68
Pagina's: 2107 - 2115
Jaar van publicatie:2021
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:2
Authors from:Government, Higher Education
Toegankelijkheid:Open