< Terug naar vorige pagina
Publicatie
Investigation of the Impact of Hot-Carrier-Induced Interface State Generation on Carrier Mobility in nMOSFET
Tijdschriftbijdrage - Tijdschriftartikel
Tijdschrift: IEEE Transactions on Electron Devices
ISSN: 0018-9383
Issue: 7
Volume: 68
Pagina's: 3246 - 3253
Jaar van publicatie:2021
BOF-keylabel:ja
IOF-keylabel:ja
BOF-publication weight:1
CSS-citation score:1
Authors from:Government, Higher Education
Toegankelijkheid:Open