Automatische defect-georiënteerde testgeneratie voor analoge en gemengd-signaal geïntegreerde schakelingen KU Leuven
Het fabricatieproces van moderne geïntegreerde schakelingen is niet perfect en de manufacturing yield bereikt nooit 100%. Hierdoor moeten alle geproduceerde geïntegreerde schakelingen getest worden om ervoor te zorgen dat defecte componenten de elektronische markt niet bereiken. Om deze verificatiefase te verbeteren, moeten er oplossingen bedacht worden om tegelijk betere testcoverages en snellere testontwikkeling te bekomen.
In ...