Onderzoeker
Wilfried Vandervorst
- Disciplines:Toegepaste wiskunde, Fysica van gecondenseerde materie en nanofysica, Atoom- en moleculaire fysica, Geofysica, Fysische geografie en omgevingsgeowetenschappen, Andere aardwetenschappen, Aquatische wetenschappen, uitdagingen en vervuiling, Geomatische ingenieurswetenschappen
Affiliaties
- Kwantum-vastestoffysica (Afdeling)
Lid
Vanaf1 aug 2019 → Heden - Kern- en Stralingsfysica (IKS) (Afdeling)
Lid
Vanaf1 okt 2007 → 31 jul 2019 - Departement Elektrotechniek (ESAT) (Departement)
Lid
Vanaf1 okt 1999 → 30 sep 2007
Projecten
1 - 10 of 34
- Hoge laterale- en diepte-resolutie ionenstraalanalyse van lateraal begrensde nanostructurenVanaf2 sep 2019 → HedenFinanciering: FWO Strategische Onderzoeksbeurs
- Zelf-focusserende SIMS met in-situ SPM: een paradigmaverschuiving in 3D-metrologieVanaf12 okt 2018 → 13 mei 2022Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Atom-by-atom analyse van geavanceerde halfgeleiderelementen: het ontrafelen van de fysica van atoomprobe tomografieVanaf20 aug 2018 → 22 mei 2019Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Nano-focused Raman spectroscopie voor stess en compositie metingenVanaf31 jul 2018 → 31 jul 2022Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Door laserondersteunde atoomprobe tomografie van oxidematerialen: veldverdampingsmechanismestudie en prestatieverbeteringVanaf15 mei 2018 → 18 dec 2020Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Synthese en karakterisering op atomaire schaal van complexe oxides met elektronische/ionische geleidbaarheidVanaf1 jan 2018 → 31 dec 2021Financiering: FWO Onderzoeksproject (incl. WEAVE projecten)
- Metrologie en fysische mechanismen van 2D overgangsmetaal dichalcogenides en hun toepassing in elektronische schakelingen.Vanaf6 nov 2017 → 31 jan 2020Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Een pad naar verbetering in de atoom probe tomografie van halfgeleiders: de dynamische evolutie van de halfgeleider emitter ontrafelenVanaf1 sep 2017 → 31 dec 2021Financiering: FWO Strategische Onderzoeksbeurs
- Ontwikkeling en karakterisatie van nano- en micro-referentiestructuren voor 3D chemische analyseVanaf8 feb 2017 → 8 jul 2019Financiering: Eigen Middelen zoals patrimonium, inschrijvingsgelden, giften, ....
- Geavanceerde methodologie voor in-line elektrische karakterisatie van gedoteerde halfgeleiders in geconfineerde volumes.Vanaf1 nov 2016 → 29 aug 2023Financiering: FWO Strategische Onderzoeksbeurs
Publicaties
471 - 480 van 482
- Towards improved atom probe tomography analysis of semiconductors : unraveling the dynamic evolution of the semiconductor emitter
Auteurs: Jonathan Op de Beeck, Wilfried Vandervorst, Claudia Fleischmann
- Post-field ionization of Si clusters in atom probe tomography: A joint theoretical and experimental study
Auteurs: Claudia Fleischmann, Wilfried Vandervorst
- G-SIMS analysis of organic solar cell materials
Auteurs: Alexis Franquet, Claudia Fleischmann, Thierry Conard, Eszter Voroshazi, Claude Poleunis, Rasmus Havelund, Arnaud Delcorte, Wilfried Vandervorst
Pagina's: 96 - 99 - Deposition processes for the fabrication of epitaxial Si-O superlattices
Auteurs: Annelies Delabie, Johan Meersschaut, Wilfried Vandervorst, Marc Heyns
Pagina's: 33 - 34 - Physical characterization of the metal/high-k layer interaction upon annealing
Auteurs: Wilfried Vandervorst, Stefan De Gendt
Pagina's: 433 - 442 - Deposition of O atomic layers on Si(100) substrates for epitaxial Si-O superlattices: investigation of the surface chemistry
Auteurs: Suseendran Jayachandran, Annelies Delabie, Arne Billen, Harold Dekkers, Bastien Douhard, Thierry Conard, Johan Meersschaut, Matty Caymax, Wilfried Vandervorst, Marc Heyns
Pagina's: 251 - 257 - Off-axis Raman spectroscopy for nanoscale stress metrology
Auteurs: Claudia Fleischmann, Ingrid De Wolf, Wilfried Vandervorst
- Nanoprober-based pick-and-place process for site-specific characterization of individual carbon nanotubes
Auteurs: T Hantschel, P Ryan, S Palanne, O Richard, K Arstila, Anne Verhulst, H Bender, Wilfried Vandervorst
Pagina's: 69 - 74 - Molecular beam deposition of Al2O3 on p-Ge(001)/Ge0.95Sn0.05 heterostructure and impact of a Ge-cap interfacial layer
Auteurs: Clement Merckling, Wilfried Vandervorst
Pagina's: 192110 - Field dependent study on the impact of co-evaporated multihits and ion pile-up for the apparent stoichiometric quantification of GaN and AlN
Auteurs: Wilfried Vandervorst, Claudia Fleischmann
Patenten
1 - 10 van 10
- A method and apparatus for aligning a probe for scanning probe microscopy to the tip of a pointed sample (Inventor)
- Device for measuring surface characteristics of a material (Inventor)
- Characterization of regions with different crystallinity in materials (Inventor)
- Method for determining the shape of a sample tip for atom probe tomography (Inventor)
- A device for measuring surface characteristics of a material (Inventor)
- A method and apparatus for transmission for transmission electron (Inventor)
- A method and apparatus for aligning a probe for scanning probe microscopy to the tip of a pointed sample (Inventor)
- Method and apparatus for transmission electron microscopy (Inventor)
- A device and method for two dimensional active carrier profiling of semiconductor components (Inventor)
- A method and apparatus for transmission electron microscopy (Inventor)